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VLSI test principles and architectures

Public ISBD Titre : VLSI test principles and architectures : design for testability Type de document : texte imprimé Auteurs : Laung-Terng Wang, Editeur scientifique ; Cheng-Wen Wu, Editeur scientifique ; Xiaoqing Wen, Editeur scientifique Mention d'édition : Editeur : San Francisco [USA] : Morgan Kaufmann Année de publication : 2006 Collection : The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Importance : 777 p. Présentation : ill. Format : 25 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-12-370597-6 Langues : Français (fre) Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Électricité;Electromagnétisme;:Electrotechnique Index. décimale : 621.3 Electrotechnique VLSI test principles and architectures : design for testability [texte imprimé] / Laung-Terng Wang, Editeur scientifique ; Cheng-Wen Wu, Editeur scientifique ; Xiaoqing Wen, Editeur scientifique  . -   . - San Francisco (340 Pine Street, Sixth Floor, San Francisci, CA 94104-3205, USA, USA) : Morgan Kaufmann, 2006 . - 777 p. : ill. ; 25 cm.. - (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon) . ISBN : 978-0-12-370597-6 Langues : Français (fre) Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Électricité;Electromagnétisme;:Electrotechnique Index. décimale : 621.3 Electrotechnique

Exemplaires

Cote	Section	Localisation	Code-barres	Disponibilité	Numero_inventaire
621.3 WLV	Electrotechnique	Biblio-ENSAO	0000000834601	Exclu du prêt	6406