A partir de cette page vous pouvez :
Retourner au premier écran avec les catégories... |
Détail d'une collection
Collection The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
- Editeur : Morgan Kaufmann
- ISSN : pas d'ISSN
Documents disponibles dans la collection
Affiner la rechercheASIC and FPGA verification / Richard Munden
Titre : ASIC and FPGA verification : a guide to component modeling Type de document : texte imprimé Auteurs : Richard Munden, Auteur Mention d'édition : Editeur : San Francisco [USA] : Morgan Kaufmann Année de publication : 2005 Collection : The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Importance : 316 p. Format : 24 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-12-510581-1 Langues : Anglais (eng) Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Electronique Index. décimale : 621.38 Electronique et télécommunications ASIC and FPGA verification : a guide to component modeling [texte imprimé] / Richard Munden, Auteur . - . - San Francisco (340 Pine Street, Sixth Floor, San Francisci, CA 94104-3205, USA, USA) : Morgan Kaufmann, 2005 . - 316 p. ; 24 cm.. - (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon) .
ISBN : 978-0-12-510581-1
Langues : Anglais (eng)
Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Electronique Index. décimale : 621.38 Electronique et télécommunications Exemplaires
Cote Section Localisation Code-barres Disponibilité Numero_inventaire 621.38 MRA Electronique Biblio-ENSAO 0000000833401 Exclu du prêt 6431 VLSI test principles and architectures
Titre : VLSI test principles and architectures : design for testability Type de document : texte imprimé Auteurs : Laung-Terng Wang, Editeur scientifique ; Cheng-Wen Wu, Editeur scientifique ; Xiaoqing Wen, Editeur scientifique Mention d'édition : Editeur : San Francisco [USA] : Morgan Kaufmann Année de publication : 2006 Collection : The Morgan Kaufmann series in systems on silicon Importance : 777 p. Présentation : ill. Format : 25 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-12-370597-6 Langues : Français (fre) Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Électricité;Electromagnétisme;:Electrotechnique Index. décimale : 621.3 Electrotechnique VLSI test principles and architectures : design for testability [texte imprimé] / Laung-Terng Wang, Editeur scientifique ; Cheng-Wen Wu, Editeur scientifique ; Xiaoqing Wen, Editeur scientifique . - . - San Francisco (340 Pine Street, Sixth Floor, San Francisci, CA 94104-3205, USA, USA) : Morgan Kaufmann, 2006 . - 777 p. : ill. ; 25 cm.. - (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon) .
ISBN : 978-0-12-370597-6
Langues : Français (fre)
Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Électricité;Electromagnétisme;:Electrotechnique Index. décimale : 621.3 Electrotechnique Exemplaires
Cote Section Localisation Code-barres Disponibilité Numero_inventaire 621.3 WLV Electrotechnique Biblio-ENSAO 0000000834601 Exclu du prêt 6406